詳細(xì)摘要： Verios是FEI的XHR（分辨率）SEM系列的第二代產(chǎn)品
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：廣州市更新時(shí)間：2025-07-05 在線留言廣州佳睿科學(xué)儀器有限公司
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述：納米級(jí)物質(zhì)成像、分析和控制—這些未來(lái)研發(fā)的關(guān)鍵因素—因HeliosNanoLabDualBeam系列儀器的誕生而變得普通平淡
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述：開發(fā)新一代產(chǎn)品需要新型材料科學(xué)工具來(lái)給研究者提供所需要的表征數(shù)據(jù)的能力，以確切地了解材料間的相互關(guān)系以及什么特性對(duì)材料的功能比較重要
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述：VionPFIB是一款具有高精度、高速度切割和銑蝕能力的儀器
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述：V400ACE聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)融入了離子鏡筒設(shè)計(jì)、氣體輸送和終端探測(cè)技術(shù)的發(fā)展成果，用以提供快速、有效、具成本效益的集成電路編輯
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詳細(xì)摘要： 功能豐富的高性能SEMApreo革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生的高分辨率和信號(hào)選擇
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詳細(xì)摘要： 自2005年推出以來(lái)，Titan以其的產(chǎn)品設(shè)計(jì)和已獲證明的具有突破性的性能和結(jié)果成為各地杰出研究人員的掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM)
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詳細(xì)摘要： FEIScios是一款超高分辨率DualBeam分析系統(tǒng)，能為包括磁性材料在內(nèi)的眾多樣本提供出色的二維和三維性能
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詳細(xì)摘要： FEIQUANTA產(chǎn)品系列包括6個(gè)變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM）和兩個(gè)DualBeam系統(tǒng)，所有這些都可以容納多個(gè)樣品和工業(yè)過(guò)程控制實(shí)驗(yàn)室，材料科學(xué)...
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詳細(xì)摘要： 科技集于一身Talos是新一代TEM產(chǎn)品，致力于讓用戶迅速訪問二維和三維數(shù)據(jù)，從而專注于研究發(fā)現(xiàn)
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詳細(xì)摘要： 臺(tái)式掃描電子顯微鏡（DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM）,又俗稱“桌上型掃描電鏡"或“MiniSEM"，相...
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詳細(xì)摘要： 探知未來(lái)原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過(guò)高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱
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詳細(xì)摘要： HR-SPM觀察生動(dòng)的納米世界HR-SPM是采用頻率檢測(cè)方式（FrequencyModulation）的新一代原子力顯微鏡
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詳細(xì)摘要： 從毫米到納米的超大范圍觀察和自由切換測(cè)量的多種顯微觀測(cè)模式OLS4500是結(jié)合了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡、激光共聚焦顯微鏡（LSM）以及原子力顯微鏡（AFM）功能的一體機(jī)
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詳細(xì)摘要： “TheGrandEPMA"誕生搭載場(chǎng)發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)、將島津EPMA分析性能發(fā)揮到從SEM觀察條件到1μA量級(jí)，在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場(chǎng)發(fā)射電子光...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：廣州市更新時(shí)間：2025-07-04 在線留言
詳細(xì)摘要： 從軟件到硬件凝結(jié)了，鑄就了新一代EPMA
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